M 系列分析天平-可讀性0,1mg

高品質的分析天平系列結合了優雅與高度可靠的測量性能。 雙外殼結構,符合人體工學鍵盤,可外部或內部校正。 許多嵌入式高級功能更使其適合在實驗室,研究部門,模擬和質量控制應用中使用。 -ION型號在天平的後部配備了集成的靜電消除器,目的是中和帶電樣品(例如塑膠部件,容器或薄膜)上的靜電。